薄膜四探針方阻測試儀HPS58003是一款專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，塑料薄膜、金屬薄膜、金屬鍍層等同類物質(zhì)的薄層電阻。
帶彈簧測試探頭, 接觸可靠, 工作穩(wěn)定, . 使用時只要把探頭輕輕壓在被測鍍膜上面, 無需任何調(diào)節(jié),新款方阻儀用5芯專用插座代替原有的香蕉插座，使得線纜不易折損，探頭的使用壽命極大延長。
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